投稿须知
  《光谱学与光谱分析》是由中国科协主管,中国光学学会主办,钢铁研究总院、中国科学院物理研究所、北京大学、清华大学共同承办的专业学术期刊。国内外公 ...

不同粒级辉钼矿的XRD和SEM及其可浮性差异研究

作者: 李慧 [1] 何廷树 [1] 王宇斌 [1] 靳建平 [2] 袁航 [1]

关键词: 辉钼矿 可浮性 粒级 晶型 X射线衍射 扫描电镜

摘要:在浮选过程中,微细粒级的辉钼矿回收难度较大,易损失在尾矿中.为了分析不同粒级辉钼矿可浮性差异,揭示细粒级辉钼矿可浮性恶化的原因,以-150+74,-74+45,-45+38和-38μm四个粒级辉钼矿为研究对象,通过辉钼矿纯矿物浮选试验,首次利用X射线衍射分析(XRD)、扫描电镜(SEM)及能谱(EDS)分析,对四个粒级辉钼矿的可浮性及其晶型特征和外在形貌的变化规律进行系统研究和对比.研究表明:随着粒级的减小,辉钼矿的可浮性降低,浮选效果恶化,且辉钼矿的可浮性由非极性、低能、疏水的“面”和活泼、亲水的“棱”的面积比决定.辉钼矿在受外力作用下由粗粒级变成细粒级过程中,首先主要是沿解理面破裂,然后沿断裂面的破裂增多,导致面棱比减小,辉钼矿的可浮性下降;同时辉钼矿晶型结构由3R亚稳定状态转变为2H型稳定状态.此外,与3R型的粗粒级辉钼矿相比,微细粒级辉钼矿以2H型为主,且其(002)晶面的面间距逐渐增大,导致水分子容易进入晶体结构内部,并在矿物表面形成水化膜,辉钼矿亲水性增强.晶型的不同使不同粒级辉钼矿的物理性质发生变化,面间距的增大则使辉钼矿断裂面暴露的亲水性钼-硫键数目增多,两者是细粒级辉钼矿亲水性增强及可浮性下降的本质原因.


上一篇: 精细X荧光光谱中伪峰剔除方法的研究
下一篇: 超支化聚酰胺接枝壳聚糖的制备及其对重金属和染料吸附的光谱分析

Copyright@2003 China Physical Science & Technology All Rights Reserved
中国物理学会 版权所有 2013 京ICP备05002789号